<div dir="ltr"><div><div><div><div>Dear PWusers, <br><br></div>I am trying to perform phonon calculation to thin layer silicon structure. <br></div>When I do the single layer structure, the results look fine. <br><br></div>
Now I follow the same procedure and performed phonon calculation for double layer silicon. The structure is a literature reported stable structure and have no negative frequencies. I also performed vc-relax before the scf calculation. However, I find that the dielectric constant is negative. See below. <br>
<br>      thresh= 0.345E-09 alpha_mix =  0.700 |ddv_scf|^2 =  0.924E-18<br><br>     End of electric fields calculation<br><br>          Dielectric constant in cartesian axis <br><br>          (     519.702858197    -231.772865836       0.075753747 )<br>
          (    -231.772894836     802.730592803      -0.157103615 )<br>          (       0.075591420      -0.156819902       1.555242942 )<br><br><br></div><div>I am wondering what could be the possible reason for this. <br>
</div><div>Below is my SCF file. The phonon file and vc-relax files are also attached. <br><br> &control<br>    calculation='scf'<br>    restart_mode='from_scratch',<br>    !pseudo_dir='directory where pseudopotentials are stored/',<br>
    !outdir='directory where large files are written/'<br>    pseudo_dir='./',<br>    outdir='./tmp'<br>    prefix='PH',<br> /<br> &system    <br>    ibrav=4, celldm(1)=7.18944, celldm(3)=5, nat=4, ntyp=1,<br>
    ecutwfc =60.0<br> /<br> &electrons<br>    conv_thr =  1.0d-8<br>    mixing_beta = 0.7<br>/<br>&IONS<br>  bfgs_ndim         = 1,<br>  !upscale           = 100.D0,<br>  pot_extrapolation = "second_order",<br>
  wfc_extrapolation = "second_order",<br> /<br>ATOMIC_SPECIES<br> Si  28.0855 Si.pz-vbc.UPF<br>ATOMIC_POSITIONS<br>Si      0       0       0.049791982<br>Si      0       0.569680156     0.217896315<br>Si      0       0.569376936     0.864095041<br>
Si      0.493360901     0.284531641     1.032253949<br>K_POINTS automatic<br>  32 32 1 0 0 0<br> <br></div></div>